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References from Imaging Excited-State Dynamics in Two-Dimensional Semiconductors with Emerging Ultrafast Measurement Techniques. Local targets link to admitted publications; unresolved targets remain external evidence.
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10.1021/nn500532f
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10.1126/science.aac7660
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10.1126/sciadv.aax8821
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10.1021/acs.nanolett.8b02103
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10.1021/acs.nanolett.0c00742
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10.1038/s41467-017-01844-2
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10.1021/acs.nanolett.9b05344
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10.1016/j.micron.2019.03.002
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10.1021/acs.jpclett.9b02342
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10.1039/c7nr07890k
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