Research graph
References from Investigating the impact of irradiation on various ringFET-based SRAM circuits using 3D TCAD. Local targets link to admitted publications; unresolved targets remain external evidence.
10.1063/1.1778485
10.1063/1.1778485 · 2004 · External reference
10.1109/icaccs.2017.8014562
10.1109/icaccs.2017.8014562 · External reference
10.1109/16.887014
10.1109/16.887014 · 2000 · External reference
10.1186/s11671-016-1396-7
10.1186/s11671-016-1396-7 · 2016 · External reference
10.1109/led.2014.2310175
10.1109/led.2014.2310175 · 2014 · External reference
10.1109/ted.2012.2193129
10.1109/ted.2012.2193129 · 2012 · External reference
10.1109/ted.2005.862697
10.1109/ted.2005.862697 · 2006 · External reference
Unresolved reference
External reference
10.1109/isdrs.2011.6135177
10.1109/isdrs.2011.6135177 · External reference
10.1109/ted.2015.2493578
10.1109/ted.2015.2493578 · 2015 · External reference
10.1016/j.spmi.2017.08.006
10.1016/j.spmi.2017.08.006 · 2017 · External reference
10.1109/edkcon.2018.8770410
10.1109/edkcon.2018.8770410 · External reference
10.1007/s12633-022-02055-1
10.1007/s12633-022-02055-1 · 2022 · External reference
10.1016/j.microrel.2024.115521
10.1016/j.microrel.2024.115521 · 2024 · External reference
10.56042/jsir.v84i1.7272
10.56042/jsir.v84i1.7272 · 2025 · External reference
10.1109/led.2007.901273
10.1109/led.2007.901273 · 2007 · External reference
10.1109/ted.2006.871842
10.1109/ted.2006.871842 · External reference
10.1109/ted.2009.2039093
10.1109/ted.2009.2039093 · 2010 · External reference
Unresolved reference
1926 · External reference
10.1038/nnano.2010.15
10.1038/nnano.2010.15 · 2010 · External reference
10.1109/ted.2011.2109724
10.1109/ted.2011.2109724 · 2011 · External reference
10.1049/el.2010.2736
10.1049/el.2010.2736 · 2010 · External reference
10.1080/00207219108925470
10.1080/00207219108925470 · 2007 · External reference
10.1007/978-1-4615-5415-8_6
10.1007/978-1-4615-5415-8_6 · 1998 · External reference
10.1109/tns.1982.4336495
10.1109/tns.1982.4336495 · 1982 · External reference
10.1109/tns.2008.2000957
10.1109/tns.2008.2000957 · 2008 · External reference
10.1109/tns.2006.889810
10.1109/tns.2006.889810 · 2007 · External reference
10.3390/electronics13101954
10.3390/electronics13101954 · 2024 · External reference
10.1109/tns.2023.3337288
10.1109/tns.2023.3337288 · 2024 · External reference
10.1109/23.124140
10.1109/23.124140 · 1991 · External reference
10.1109/icces63552.2024.10860051
10.1109/icces63552.2024.10860051 · External reference
10.1109/led.2012.2208093
10.1109/led.2012.2208093 · 2012 · External reference
10.1109/icnets2.2017.8067925
10.1109/icnets2.2017.8067925 · External reference
Unresolved reference
External reference
10.1051/jphyscol:19884115
10.1051/jphyscol:19884115 · External reference
10.1109/s3s.2013.6716530
10.1109/s3s.2013.6716530 · External reference
10.1109/tns.2005.860680
10.1109/tns.2005.860680 · 2005 · External reference
10.1063/5.0131345
10.1063/5.0131345 · 2023 · External reference
10.1109/ftfc.2014.6828617
10.1109/ftfc.2014.6828617 · External reference
10.1007/s10825-015-0748-3
10.1007/s10825-015-0748-3 · 2016 · External reference
10.1016/j.mejo.2017.07.008
10.1016/j.mejo.2017.07.008 · 2017 · External reference
10.1109/mwscas.2014.6908500
10.1109/mwscas.2014.6908500 · External reference
10.1016/j.mee.2004.01.013
10.1016/j.mee.2004.01.013 · 2004 · External reference
10.1016/j.sse.2003.12.038
10.1016/j.sse.2003.12.038 · 2004 · External reference
10.1109/led.2006.871540
10.1109/led.2006.871540 · 2006 · External reference
