Abstract
Evropiyum (Eu) katkılı çinko oksit (ZnO) filmleri, ucuz ve basit bir metot olan sol jel metodu ile elde edilen çözeltiler kullanılarak p-tipi silisyum (p-Si) alttaşlar üzerine spin kaplama tekniği ile büyütülmüştür. Elde edilen ZnO filminin yapısal, morfolojik ve optik özellikleri üzerine Eu katkısının etkisi, sırasıyla X-ışını kırınım cihazı, taramalı elektron mikroskobu ve uv-vis spektrofotometresi kullanılarak araştırılmıştır. Filmlerin XRD spektrumlarından, bütün filmlerin hekzagonal wurtzite zinkit (ZnO) yapıya ait olduğu ve (002) tercihli yönelime sahip olduğu belirlenmiştir. ZnO:Eu filmlerinin çekilen SEM fotoğrafları ImageJ programı ile analiz edilmiştir. Bütün filmlerin yüzeylerinin homojen ve düzgün yapıya sahip olduğu ve nanoparçacıklardan oluştuğu; yapılan Eu katkısının ZnO yüzey morfolojisinde önemli bir değişiklik olmadığı gözlenmiştir. ZnO:Eu filmlerinin diffüz yansıma spektrumları, entegre küre aparatlı UV-vis spektrofotometre yardımıyla ölçülmüştür. Bu spektrumlar kullanılarak filmlerin optik bant aralık değerleri, hem diferansiyel yansıma spektrumları hem de Kubelka-Munk fonksiyonu kullanılarak belirlenmiştir.